高德红外
焦平面探测器项目通过鉴定
焦平面探测器项目通过鉴定
2014-02-25 来源:上海证券报 作者:⊙记者 陈捷 ○编辑 阮奇
⊙记者 陈捷 ○编辑 阮奇
高德红外发布公告称,公司投资2.4亿元的红外焦平面探测器产业化项目研制获成功,近日通过了湖北省科技厅组织的专家鉴定,鉴定意见认为该项目共申请11 项专利,其中已授权发明专利1项,实用新型4项,获得集成电路布图设计资质4项,整体达到国内领先水平,在国内率先具备了非晶硅红外探测器产业化的能力。
据悉,红外焦平面探测器是红外探测系统中技术含量最高的核心芯片部件,该技术一直为美国、法国等少数几个国家垄断,此前公司红外探测产品所用红外焦平面探测器均从国外进口,由于进口产品每片都在人民币8000元以上,高昂的成本成为阻碍红外探测系统走向民用市场的一个重要障碍。此次研制成功,将会大大降低该产品在车载、船用、公安、消防、安防、工业检测等民用及国防各领域红外探测产品的成本,在进口替代方面具有重要价值。
公司表示,目前,非制冷红外焦平面探测器产业化项目净化厂房建设已完成、设备已到货并调试验收合格,工艺稳定。下一阶段,公司将按照计划开展探测器的试生产及批产工作。
据记者了解,此前公司已向市场推出了轿车用车载远红外辅助驾驶系统产品,但由于其成本高价格较贵影响了市场推广,此次红外焦平面探测器的研制成功有望改变这一状况。